CrossRef Open Access 1996 39 sitasi

Coverage-dependent study of the Cs/Si(100)2×1 surface using photoelectron spectroscopy

Y.-C. Chao L. S. O. Johansson R. I. G. Uhrberg

Penulis (3)

Y

Y.-C. Chao

L

L. S. O. Johansson

R

R. I. G. Uhrberg

Format Sitasi

Chao, Y., Johansson, L.S.O., Uhrberg, R.I.G. (1996). Coverage-dependent study of the Cs/Si(100)2×1 surface using photoelectron spectroscopy. https://doi.org/10.1103/physrevb.54.5901

Akses Cepat

PDF tidak tersedia langsung

Cek di sumber asli →
Lihat di Sumber doi.org/10.1103/physrevb.54.5901
Informasi Jurnal
Tahun Terbit
1996
Bahasa
en
Total Sitasi
39×
Sumber Database
CrossRef
DOI
10.1103/physrevb.54.5901
Akses
Open Access ✓